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工業CT空間分辨率測試卡

簡要描述:工業(ye) CT空間分辨率測試卡
產(chan) 品介紹:線對卡是用來測試工業(ye) CT係統空間分辨力的一種標準試件,它是由鋁 、鋼 、銅或其他由供需雙方商定的材料製作的薄片構成的線對組,每個(ge) 線對組由4塊規格尺寸相同的薄片平行排列構成,其三維結構如圖 A.1、正視圖如圖 A.2所示 。 每個(ge) 線對組

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  • 廠商性質:經銷商
  • 更新時間:2024-11-17
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詳情介紹

工業(ye) CT空間分辨率測試卡

產(chan) 品名稱:工業(ye) CT空間分辨率測試卡

產(chan) 品編號:20241115-01

產(chan) 品製造商:廊坊玉雙儀(yi) 器設備有限公司,產(chan) 地:河北

產(chan) 品介紹:線對卡是用來測試工業(ye) CT係統空間分辨力的一種標準試件,它是由鋁 、鋼 、銅或其他由供需雙方商定的材料製作的薄片構成的線對組,每個(ge) 線對組由4塊規格尺寸相同的薄片平行排列構成,其三維結構如圖 A.1、正視圖如圖 A.2所示 每個(ge) 線對組中的薄片厚度為(wei) T,相鄰片中心間距為(wei) 2TT 可以根據實際情況加以選擇,一般可包括0.125mm0.15mm0.2mm0.25mm0.5mm1.0mm 每個(ge) 線對組中的薄片長度 L 為(wei) 10mm~15 mm。適宜的長度可根據 CT係統的射線能量確定 或由 CT係統供應商與(yu) 用戶之間協商確定 每個(ge) 線對組中的薄片高度 H 至少為(wei) 切片厚度 T3

不同線對卡在測試中產(chan) 生差異的原因主要包括幾何結構、材料密度和散射效應。條卡的線條形狀可能在某些方向上產(chan) 生較強的邊緣效應,導致分辨率數據在不同方向上存在差異。圓孔形和方孔形線對卡則在多個(ge) 方向上提供了更均勻的分辨率數據,但圓孔形線對卡的製作難度較高,可能影響測試結果的一致性。此外,材料密度和散射效應對測試結果也有顯著影響,不同材料的吸收特性會(hui) 導致不同的分辨率表現。因此,在選擇線對卡時,需要綜合考慮這些因素的影響。

常見的線對卡類型包括條卡、圓孔形線對卡和方孔形線對卡。條卡由一係列平行的線條組成,線條間距逐漸減小,用於(yu) 測試係統的最小可分辨間距。這種設計簡單直觀,易於(yu) 操作。圓孔形線對卡通過圓形孔洞的排列來測試分辨率,這種設計能夠在多個(ge) 方向上提供更均勻的分辨率數據,適用於(yu) 需要多角度評估的情況。方孔形線對卡則通過方形孔洞的排列來測試分辨率,其結構簡單,製作相對容易,適合初步測試和快速評估。

發貨方式:

產(chan) 品狀態:訂製加工

實體(ti) 廠家可以按照客戶要求訂製:工業(ye) CT空間分辨率測試卡

產(chan) 品編號:20241115-01廊坊玉雙儀(yi) 器設備有限公司





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