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工業計算機層析成像測試卡

簡要描述:工業(ye) 計算機層析成像測試卡
zui大可檢測鋼厚度測試卡是用來測試工業(ye) CT係統zui大可檢測鋼厚度的一種標準試件,由兩(liang) 個(ge) 部分組成:一是由多個(ge) 圓環嵌套的組合圓盤;二是放置在園盤中心的空間分辨率測試件,其三維結構如圖1所示。組合網盤的外徑根據CT係統檢測需求設定,組合圓盤的zui小內(nei) 徑與(yu) 測試件的外徑尺寸一致,間隙配合。空間分辨率測試件按結構形式不同分為(wei) 兩(liang) 種類型,線對卡和網孔卡。當檢測缺陷為(wei) 條形或裂紋缺陷時

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  • 廠商性質:經銷商
  • 更新時間:2024-08-23
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詳情介紹

工業(ye) 計算機層析成像測試卡

產(chan) 品名稱:工業(ye) 計算機層析成像測試卡

產(chan) 品編號:20240821-02

產(chan) 品廠家:廊坊玉雙儀(yi) 器設備有限公司,生產(chan) 加工:工業(ye) 計算機層析成像測試卡、工業(ye) 計算機層析成像CT測試卡、工業(ye) 計算機層析成像CT機測試卡、工業(ye) 計算機層析成像分辨力測試卡、工業(ye) 計算機層析成像CT分辨力測試卡、工業(ye) CT成像校準測試卡、工業(ye) 計算機層析CT機質控成像測試卡、工業(ye) 計算機層析CT校準檢測成像測試卡、工業(ye) 計算機層析成像校準用測試卡、工業(ye) 計算機層析成像線對測試卡、工業(ye) 計算機層析成像空間分變率測試卡。

 GB/T 37122-2018無損檢測

產(chan) 品介紹:zui大可檢測鋼厚度測試卡是用來測試工業(ye) CT係統zui大可檢測鋼厚度的一種標準試件,由兩(liang) 個(ge) 部分組成:一是由多個(ge) 圓環嵌套的組合圓盤;二是放置在園盤中心的空間分辨率測試件,其三維結構如圖1所示。組合網盤的外徑根據CT係統檢測需求設定,組合圓盤的zui小內(nei) 徑與(yu) 測試件的外徑尺寸一致,間隙配合。空間分辨率測試件按結構形式不同分為(wei) 兩(liang) 種類型,線對卡和網孔卡。當檢測缺陷為(wei) 條形或裂紋缺陷時建議使用線對卡進行測試,當檢測缺陷為(wei) 孔形缺陷時建議使用圓孔卡進行測試,可由合同雙方協商確定。線對卡三維結構如圖3所示,正視圖如圖4所示。線對卡中部是由鋼質薄片構成的1~3種線對組,靠近圓心的線對組由四塊規格相同的薄片平行排列構成,兩(liang) 側(ce) 參考線對組為(wei) 0~4塊規格相同的薄片平行排列。其中,靠近圓心的線對組規格由係統檢測需求確定,兩(liang) 側(ce) 線對組薄片厚度為(wei) 靠近圓心線對組薄片厚度的2~5倍。圓柱基體(ti) 為(wei) 鋼質材料,內(nei) 部長方形開槽部分基體(ti) 材料為(wei) 樹脂或空氣,上下蓋使用透明材料。

運輸包裝::廊坊玉雙儀(yi) 器設備有限公司,生產(chan) 加工:工業(ye) 計算機層析成像測試卡、工業(ye) 計算機層析成像CT測試卡、工業(ye) 計算機層析成像CT機測試卡、工業(ye) 計算機層析成像分辨力測試卡、工業(ye) 計算機層析成像CT分辨力測試卡、工業(ye) CT成像校準測試卡、工業(ye) 計算機層析CT機質控成像測試卡、工業(ye) 計算機層析CT校準檢測成像測試卡、工業(ye) 計算機層析成像校準用測試卡、工業(ye) 計算機層析成像線對測試卡、工業(ye) 計算機層析成像空間分變率測試卡

產(chan) 品編號:20240821-02


 




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